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熱門關鍵詞： 測角儀，應力雙折射，折射率，薄膜弱吸收，反射率，GDD檢測設備，波片相位延遲，剪切
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激光測量激光功率計能量計應力儀穆勒矩陣測量系統測厚儀測角儀散射儀弱吸收儀光學表面質量檢測系統CRD高反射率測量儀光學測量精密光機系統激光器光電器件
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選擇我們就是選擇高品質，我們是您的信賴之選！
非接觸式、非破壞性，實時在線測量或離線測量
可單次測量多層膜，可測20層
探針靈活配置，實現多個不同目標測量
測試速度快，適用范圍廣
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北京昊然偉業(yè)光電科技有限公司成立于2010年，專業(yè)代理歐美（德國、瑞士、美國、波蘭等）高精度的光學檢測設備，致力于為科研和工業(yè)客戶提供光學檢測解決方案及包括售前、售中及售后在內的服務。主要包括：光學檢測產品：應力雙折射、折射率、弱吸收、反射率、散射等測量系統/剪切干涉儀/非接觸式測厚儀/測角儀/可調相位延遲波片等；激光檢測產品：激光功率計、能量計及光束質量分析儀等；集成系統所需的激光器、步進位移平臺、偏振光轉換器等顯微系統所需的XYZ電動載物臺、波片進片機、高速相機ICCD、像增強器300ps門...
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光束質量分析儀基本的工作原理是通過對光束橫截面上的光強分布進行測量和分析。當光束照射到分析儀的探測器表面時，探測器上的每個像素點會接收到不同強度的光信號，并將這...
9-23
Gentec-EO激光功率計的核心在于準確控制測量條件、規(guī)范操作流程以及定期維護校準。通過上述步驟和注意事項，可保證測量的準確性和設備壽命。1.準備工作：確保設備處于良好的工作環(huán)境，溫度為室溫(約25℃)。檢查儀器各部件是否完好，連接是否正常。初次使用時，需先測定0輸入對應的功率值作為校準基準。2.對準光路：將激光源發(fā)出的光束準確對準探頭的光輸入窗口。此時應調整光斑大小，使其占有效測量區(qū)域的40~80，以保證測量精度。例如，若探頭的有效感應面積較大，則需通過光學元件或機械裝置...
9-18
穆勒矩陣測量系統的定標是確保系統準確獲取光學信息的關鍵步驟，其核心在于通過已知光學特性的標準樣品，對系統參數進行精確調整與校準，以下為詳細介紹：一、定標原理穆勒矩陣是描述材料對偏振光變換作用的四維矩陣，每行對應入射偏振態(tài)，每列對應出射偏振態(tài)，16個元素共同構成材料的光學指紋。定標過程即通過標準樣品，確定系統各偏振參數（如補償器相位延遲量、起偏器和檢偏器方位角等），使系統能夠準確獲取樣品的穆勒矩陣。二、定標步驟準備標準樣品：選擇具有已知光學特性的標準樣品，如具有明確偏振特性的晶...
9-9
Gentec-EO激光功率計的核心在于熱效應探測器的使用。激光探頭表面涂有特殊的熱電材料作為吸收體，當激光照射時，大部分光能被該材料吸收并轉化為熱量，僅有少量反射。這種高吸收率的設計確保了測量的準確性基礎。吸收體兩端因受熱不均形成溫度梯度，進而在兩端之間產生電壓差。這一過程利用了塞貝克效應(Seebeckeffect)，即不同溫度下的導體或半導體會產生電動勢的現象。產生的微弱電壓信號隨后由配套的電路進行放大和處理。內置的高精度測量電路負責接收這些模擬信號，并將其轉換為數字形式...
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激光能量計是激光技術領域中不可少的精密測量工具，專門用于測量激光脈沖的能量，為激光應用的精準控制提供可靠依據。在激光技術日益普及的今天，激光能量計已成為科研、工...
8-25
在我們日常生活中，眼鏡、相機鏡頭、顯微鏡、望遠鏡等都離不開光學玻璃。這些玻璃不僅要透明，還要具備高的光學均勻性。然而，即使外觀無瑕的玻璃，內部也可能隱藏著“壓力”——這就是所謂的“殘余應力”。這種應力雖看不見，卻會嚴重影響光學性能，因此必須進行精確測量和控制。本文將帶您了解光學玻璃應力測量的基本知識。什么是光學玻璃中的應力？光學玻璃在制造過程中(如熔煉、成型、退火等)，由于溫度變化不均勻或外部約束，內部會產生不均勻的分子排列，導致部分區(qū)域被拉伸或壓縮，形成“殘余應力”。這種應...
7-16
摘要激光技術在科研、工業(yè)制造、醫(yī)療等眾多領域有著廣泛的應用。為了確保激光設備的性能和安全性，準確地測量激光輸出功率顯得尤為重要。本文將詳細介紹激光功率計的工作原理及其主要功能。一、引言隨著激光技術的發(fā)展，激光在各行各業(yè)中的應用越來越廣泛，從簡單的指示器到復雜的外科手術器械和精密制造工藝中都能見到它的身影。而激光功率計作為一種重要的測量工具，在保證激光設備正常運行、優(yōu)化激光加工過程以及保障操作人員安全方面發(fā)揮著至關重要的作用。二、激光功率計的基本原理光電效應：這是激光功率計基礎...
6-18
當光進入Lumetrics測厚儀的干涉儀后，輸入光被等比例分束成為兩束光。這兩束光頻率相同、振動方向相同，但具有穩(wěn)定的相位差，并沿不同光路傳播。在輸出端重新匯合疊加時，會出現光的干涉現象。光強在疊加區(qū)域內不是均勻分布，而是在數值之間逐點變化，可能超過兩光束之和，小值可能是零。通過分析這種干涉條紋的變化，可以準確地測量出被測物體的厚度。Lumetrics測厚儀優(yōu)點：-非接觸式測量：它不需要與被測物體直接接觸，避免了傳統接觸式測量可能對物體表面造成的劃傷、磨損等損害，尤其適用于測...
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